几何公差如何计算

几何公差的计算主要依据设计要求、公差等级及适用的统计方法，具体步骤如下：

一、核心计算方法

极值法

通过尺寸链中最大或最小极限尺寸计算目标尺寸，公式为：

$$

Delta = D_{text{max}} - D_{text{min}} = ES - EI

$$

其中，$Delta$为尺寸公差，$D_{text{max}}$、$D_{text{min}}$分别为最大、最小极限尺寸，$ES$、$EI$为上、下偏差。

均方根法

采用统计分析，将各尺寸公差平方和开根，公式为：

$$

Delta = sqrt{sum (D_i cdot Delta D_i^2)}

$$

适用于多尺寸链的综合性分析。

二、关键影响因素

公差等级：

IT0（精密）至IT14（粗糙），等级越高精度要求越高，需对应查找公差数值表。

材料条件（MMC）：确定允许的最大或最小尺寸，影响公差值计算。

设计要求：明确形状、位置、方向等公差类型（如直线度、圆度、位置度等）。

三、注意事项

区分尺寸公差与几何公差：尺寸公差仅关注尺寸偏差，几何公差涉及形状、位置、方向的综合控制。

实际应用：需结合测量设备（如三坐标测量仪）验证公差是否符合要求。

以上方法需根据具体零件类型和工艺条件选择，建议参考国家标准或行业规范获取详细数值表。